X射线相衬成像法检测内爆靶参数
理论分析了利用X射线同轴离焦相衬成像法测量金黑腔内塑料中心微球位置的可行性,在此基础上进行了实验研究.实验结果证明,由于低Z低密度材料对高能X射线有相位调制作用,因此仍能够形成一定的图像反差,这种效应并不依赖X射线的能量,因此在一定的尺度范围内,可以实现高Z高密度材料与低Z低密度材料在高能X射线下同时成像,克服了传统吸收成像的不足,最终实现了内爆靶装配参数的精密检测.
惯性约束聚变、内爆靶、金黑腔、X射线相衬成像、装配参数检测
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TH744.3(仪器、仪表)
国家高技术发展计划项目
2013-01-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2627-2630