耦合腔高频特性的单腔模型研究与应用

摘要：

在耦合腔结构的高频特性模拟中,基于准周期边界条件法建立的双腔模型,由于两端电场的边界条件完全相同,导致了伪解的出现.本文建立了单腔仿真模型,消除了伪解存在的边界条件,避免伪解的出现.在保证求解精度的基础上,网格数目减少了62％,总计算时间缩小了56％,一次性生成色散曲线和耦合阻抗曲线,提高了色散和耦合阻抗的数据处理效率,为高频结构参数优化提供了更有效的途径.采用单腔仿真模型,模拟分析了各结构尺寸对高频特性的影响.

关键词：耦合腔、色散特性、耦合阻抗、电磁仿真

所属期刊栏目：24

分类号：TN124(真空电子技术)

在线出版日期：2012-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1931-1935