平响应X射线二极管辐射能流还原率提高方法

摘要：

惯性约束聚变实验中使用平响应X射线二极管(XRD)阵列从不同方向测量黑腔辐射能流的时间演化过程和角分布.平响应XRD的谱响应曲线存在局部不平整,给辐射能流的还原引入了误差.为减小由于能谱形状和平响应局部不平带来的还原误差,提出了加权求解平响应XRD的平均响应值的方法.对该方法提高辐射能流的还原率的必要条件进行了研究.改进后的方法应用于实验数据的处理,结果表明:修正后的等效积分温度随时间的演化过程与多道软X光能谱仪吻合较好.

关键词：惯性约束聚变、平响应X射线二极管、辐射能流、还原率

所属期刊栏目：24

分类号：TL651;O434(受控热核反应（聚变反应理论及实验装置）)

在线出版日期：2012-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1887-1890