脉冲磁化条件下非晶磁芯的损耗特性
基于工频或高频磁化条件下磁芯的测试数据不能准确反映磁芯在单次脉冲磁化下的性能,给出了一种脉冲磁化条件下磁芯性能的测试方法和数据处理方法,实验研究了快脉冲磁化条件下非晶态合金磁芯的损耗特性,磁芯最短饱和时间67ns,最大磁化速率达到40T/μs.通过数据处理,给出了磁芯损耗与磁化速率的关系曲线,获得了不同磁化速率下磁芯的损耗数据.分析了脉冲磁化条件下涡流损耗和磁滞损耗所占的比例.研究结果表明:脉冲磁化条件下非晶态合金磁芯损耗与磁化速率关系符合饱和波模型,磁芯损耗随磁化速率增大而线性增大.
脉冲磁化、非晶态合金、磁化速率、饱和时间、涡流损耗、磁滞损耗
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TN78(基本电子电路)
2012-08-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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