用束流位置监测器测量上海光源束流寿命
通过理论分析研究了电磁耦合型束流位置探测器(BPM)用于束流寿命测量的可行性,并在上海光源储存环上进行了束流实验,对其性能进行了评估.实验结果表明,与目前常用的直流流强变压器(DCCT)系统相比,BPM给出的束流寿命具有更高的带宽和分辨力,有利于进行不同时间尺度的束流寿命评估,而且可以通过多个平均的方式来进一步提高测量精度.
束流位置监测器、束流寿命、多参数束流诊断、上海光源
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TL506(加速器)
国家自然科学基金项目11075198
2012-05-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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189-192