X波段高功率微波馈源辐射总功率阵列法测量技术
分析了采用阵列法测量高功率微波(HPM)馈源辐射总功率的相关技术环节.仿真计算了某型X带HPM馈源辐射场分布,设计了积分法测量辐射总功率的参数,并对积分总功率与端口 注入功率的关系以及积分方法引入的测量误差进行了计算.设计了由8路HPM辐射场功率密度测量系统组成阵列,对馈源辐射场功率密度进行测量,保证功率密度测量结果一致性和重复性.测量结果表明:多路测量系统测量波形相同,单路系统多次重复测量偏差在±0.1 dB内,多路测量系统对同一点辐射场功率密度测量偏差在±0.3dB 内,馈源热测E面方向图与冷测结果基本符合,积分总功率与等效辐射功率测量结果吻合较好.
高功率微波、馈源、总功牢、测量、阵列法
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O441.5(电磁学、电动力学)
国家高技术发展计划项目
2012-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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