双荧光层靶Kα线强度比诊断靶内超热电子温度

摘要：

利用双荧光层复合靶产生的Kα特征线强度比诊断了靶内超热电子的温度,即通过实验测量复合靶中两种不同材料荧光层辐射出的Kα特征线强度比,结合ITS3.0程序模拟结果,对超热电子温度进行诊断.将诊断结果与实验中利用电子磁谱仪测量的超热电子温度进行了比较,二者基本一致.结果表明,选取适当的荧光层靶厚,可以利用双荧光层复合靶产生的Kα特征线强度比对靶内的超热电子温度进行诊断.

关键词：超短超强激光、固体靶、超热电子、Kα特征线

所属期刊栏目：23

分类号：O434.12(光学)

资助基金：国家自然科学基金项目10876039,10905051,10975121;中国工程物理研究院科技发展重点基金项目2006Z0202;高温高密度等离子体物理国防科技重点实验室创新基金项目8901;中国科学院创新项目

在线出版日期：2011-09-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1303-1306