基于LOCO的上海光源储存环线性光学参数校正

摘要：

为了测量和校正线性光学参数,在上海光源储存环调束过程当中使用了基于响应矩阵的线性光学参数分析(LOCO)的方法.介绍了应用LOCO进行计算和校正的过程,包括:数值模拟得到束流位置探测器的测量精度对拟合结果的影响,调整四极铁电源电流强度来校正工作点和beta函数周期性的恢复.测量结果表明,在四极铁强度调整幅度在1.5%以内的情况下,储存环的束流光学参数成功地恢复到和设计值相当接近的状态,beta函数和色散函数畸变小于1%.通过束流光学参数的校正,使得在今后的工作当中可以轻松地控制储存环的工作模式.

关键词：线性束流光学校正、线性光学参数分析、上海光源储存环

所属期刊栏目：21

分类号：TL5(加速器)

资助基金：Foundation item:Supported by Shanghai Synchrotron Radiation Facility Project

在线出版日期：2010-01-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1893-1897