1维光子晶体缺陷模
利用光学传输矩阵理论对掺杂1维光子晶体的缺陷模进行了研究.计算和分析了缺陷层折射率、缺陷层厚度与缺陷峰的关系.得出结论:随着缺陷层厚度的增大,缺陷峰波长呈线性增加,但是当缺陷层厚度增加到一定值时,缺陷峰的个数也将不断增加;缺陷层折射率也与缺陷峰波长有线性正比关系.从而提出了一种在微波领域测量介质折射率和介电常数的有效方法.
1维光子晶体、传输矩阵法、缺陷模、介质折射率、介电常数
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O436(光学)
2009-06-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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