静态随机访问存储器型现场可编程门阵列辐照效应测试系统研制
在调研静态随机访问存储器型现场可编程门阵列(FPGA)器件空间辐照效应失效机理的基础上,详细论述FPGA辐照效应测试系统内部存储器测试、功能测试及功耗测试的实现原理,给出了系统的软硬件实现方法.所建立的系统可以测试FPGA器件的配置存储器翻转截面、块存储器翻转截面、功能失效截面、闭锁截面等多个参数,其长线传输距离达到50 m以上,最大可测门数达到了100万门,为FPGA辐照效应研究提供了测试平台.
现场可编程门阵列、辐照效应、测试系统、静态随机访问存储器
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TN386.1(半导体技术)
国家自然科学基金项目60501004
2009-06-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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