高重复频率飞秒激光对面阵CCD的干扰和破坏

摘要：

采用800 nm,100 fs的超短脉冲激光器对硅面阵CCD进行辐照实验,观测到饱和、串扰以及永久性损伤等多种可能造成成像器件失效的现象,特别是在激光能量较高时,发现CCD在成像时出现了黑白屏的现象.在飞秒激光器以1,10和1 000 Hz工作的条件下,分别测量了硅面阵CCD的饱和阈值、串扰阈值和破坏阈值.对破坏后的CCD器件进行了显微分析.在1 kHz工作的条件下进行了视场外干扰实验,观察到串扰和全屏饱和的现象.

关键词：飞秒激光、面阵CCD、破坏机理、串扰、饱和

所属期刊栏目：19

分类号：TN249(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划

在线出版日期：2008-04-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1783-1786