滤片-XRD探测系统响应时间测量

摘要：

研究了软X射线能谱仪探测道系统(系统包括X射线二极管(XRD)、SUJ-50-10电缆和不同频带示波器)的响应时间.实验利用上海激光联合实验室的20TW激光器激光(激光能量约20J,脉冲宽度约1ps)打金箔靶产生的X光,用XRD探测系统测量,记录示波器有TK684C,TK694C和WM8500等.将实验数据进行了线性拟合和比对分析.滤片-XRD探测系统的响应时间随偏压升高而加快,随传输电缆长度的增加而变慢,因此测量快信号过程时,应提高探测器偏压,缩短传输电缆,选择宽频带高采样率示波器,以便减少系统的响应时间,减小信号失真程度.

关键词：软X射线、能谱、X射线二极管、响应时间

所属期刊栏目：16

分类号：TN151.1(真空电子技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划

在线出版日期：2005-01-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1558-1562