X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析

摘要：

在ICF靶丸参数测量中,采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像,将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像.基于该数字化图像信息,编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数.采用辐向平均法标定出靶中心,采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置,计算精度约为0.2pixels.

关键词：ICF靶、X射线法、辐向平均法、二阶微分

所属期刊栏目：16

分类号：TP274.2(自动化技术及设备)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划

在线出版日期：2005-01-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1553-1557