线吸收系数能谱效应解析法研究

摘要：

用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式.研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小.FTO客体中钨的平均有效线吸收系数O.838(4.53%)cm-1,铜的平均有效线吸收系数O.297(4.96%)cm-1,能谱效应对有效线吸收系数的影响小于5%.在图像重建中利用上述的线吸收系数能够反演出精度达5%的材料密度.

关键词：闪光照相、有效线吸收系数、谱硬化、解析法

所属期刊栏目：16

分类号：O434.1;R814.3(光学)

资助基金：国防科技应用基础研究基金

在线出版日期：2004-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1356-1360