基于微观形貌和成分分析技术的GIS内部异物来源分析与应用

摘要：

内部异物已成为导致GIS设备故障的主要原因,但目前异物来源分析手段匮乏,故障调查缺少关键证据.首先介绍了材料学领域应用较为成熟的基于扫描电镜的微观形貌观测技术和基于能谱仪的成分分析技术,并将其引入电气工程领域;其次结合GIS实际故障案例现场收集相关分解物和异物,并完成制样;最后通过上述两项技术的应用,分析了内部各分解物和异物的来源,为今后此类故障分析和调查提供了借鉴.

关键词：扫描电镜、能谱仪、微观形貌、成分分析、GIS异物

所属期刊栏目：41

分类号：TM595(电器)

在线出版日期：2023-01-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：32-36