光谱在透明膜层厚度测量中的应用
光谱法测量透明膜层厚度是目前人们讨论最多和应用最为广泛的测量方法之一.随着光谱技术向更高精度和更宽光谱方向的发展,在薄膜设计和工艺制备中,利用光谱测量透明膜层的厚度具有非常重要的意义.文章主要对光谱在透明膜层厚度测量中的应用,及光谱测量设备在实际生产中的应用进行了探讨,以期能够提升透明膜层厚度测量的水平和质量.
光谱、透明膜层、厚度测量
11
O657.3(分析化学)
2021-07-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
172-174
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光谱、透明膜层、厚度测量
11
O657.3(分析化学)
2021-07-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
172-174
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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