贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析

摘要：

贵金属因其价值高,对测量精度要求较高,X射线荧光光谱技术作为一种无损检测技术,检出限在μg/g量级范围内,特别适合用来检测样品中贵金属元素的组成和含量,已经成为贵金属分析领域中的主要检测手段.文章旨在对适用于贵金属检测的XRF专利申请进行分析;理清其技术发展脉络,合理预期其未来发展趋势,供相关研究人员和企业参考.

关键词：X射线荧光光谱、贵金属、无损检测、专利技术

分类号：T-18(工业技术现状与发展)

在线出版日期：2019-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：18-19