外延雾表面研究及设备改善
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

外延雾表面研究及设备改善

引用
外延雾表面是一种常见的外延缺陷表现形式,在外延淀积后的硅片上,经常出现密集分布的雾缺陷,在器件工艺中,雾缺陷的存在会影响工艺器件的产品性能,因此硅片上的雾缺陷也成为了衡量外延层质量的一项重要参数.随着设备的更新和工艺的改进,不同的外延设备及工艺加工条件仍会有外延"雾"片的产生,对产品加工造成了困扰.文章中简要介绍了外延过程中产生发雾的原因,以理论和实践相结合的方式对外延雾缺陷的产生过程进行了试验验证,并提出了解决方式,通过增加外延炉氮气吹扫装置,隔离了外延设备关键部位与环境气体的接触,能有效降低设备自身的吸潮情况,减少外延过程中雾缺陷的形成.

外延、表面发雾、外延缺陷、设备吸潮

TN304.24(半导体技术)

2018-07-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

104-106

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

科技创新与应用

2095-2945

23-1581/G3

2018,(21)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn