基于高速单片机的X射线测厚仪数据采集系统设计

摘要：

工业用测厚仪有接触式和非接触式两种，通常在线测量使用非接触式的，而X光测厚仪是目前非接触式中使用最多的。一般而言，工业上多采用以PLC和工业计算机为核心实现测厚数据的采集和处理，但该系统体积大、价格昂贵，不适合中、小型企业客户的需求。为此，提出基于高速单片机的X射线测厚仪数据采集系统，在保证系统工作效率和测量精的前提下，使系统的结构简化以及设备的成本降低了。

关键词：高速单片机、X射线测厚仪、数据采集系统

分类号：TP3;TS8

在线出版日期：2015-09-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：3-4