基于 STM32的数字化万用表校验仪制作

摘要：

针对现有的万用表校验仪存在的不能实现自校准，显示不清晰，器件老化精度降低等问题，设计了一种基于 STM32的数字化万用表校验仪，详细介绍了该校验仪各单元的电路设计。改进后的校验仪校验结果准确度高，操作方便，大大提高了工作效率。

关键词：万用表、校验仪、制作

分类号：TG1

在线出版日期：2013-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：13-13,14