基于彩色图像处理与EDLines的数码印花缺陷检测系统

摘要：

针对数码印花生产过程中由于喷头堵塞、电机偏差引起的PASS道缺陷问题,课题组设计了一套基于彩色图像处理与EDLines的数码印花缺陷检测系统.首先构建颜色补偿矩阵覆盖无关背景花案,增强缺陷与主色间差异性;然后分别在HSI颜色空间3通道采用自定义线型滤波锐化感兴趣区域并基于EDLines实现缺陷配准,并将3通道缺陷匹配结果进行区域融合和形态学处理;最后根据水平投影实现PASS道缺陷定位.实验结果表明:检测系统对印花织物表面缺陷的检测准确率达到96％以上,满足实际检测要求,为数码印花缺陷检测提供新的方法.

关键词：缺陷检测;颜色空间;颜色补偿;EDLines

所属期刊栏目：39

分类号：TS107;TH165(纺织工业、染整工业)

资助基金：国家自然科学基金;西安市现代智能纺织装备重点实验室资助项目

在线出版日期：2021-09-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：74-79