基于高光谱成像技术的苹果内外品质同时检测

摘要：

结合高光谱图像处理和光谱分析方法,通过一次图像扫描同时对苹果的表面摔伤和糖分含量进行检测.苹果第一主成分图像与794 nm的图像相减后进行去噪和阈值分割处理,摔伤检测的准确率为92.6%.对感兴趣区域的厦射光谱曲线进行多元散射校正、一阶导数和SG平滑处理后利用偏最小二乘回归方法建立糖分含量的预测模型,校正集相关系数Rc为0.93,SEC为0.47°Brix,验证集相关系数Rv为0.92,SEV为0.67°Brix.结果表明:利用高光谱成像技术可以实现苹果内部品质和外部品质的同时检测.

关键词：苹果、糖分含量、摔伤、高光谱、无损检测

所属期刊栏目：42

分类号：S123(农业物理学)

资助基金："十一五"国家科技支撑计划资助项目2006BAD11A12-11;国家农业智能装备工程技术研究中心开放课题资助项目

在线出版日期：2012-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：140-144