杏低温薄层干燥试验与建模

摘要：

在较低温度下采用旋转组合设计对杏进行了薄层干燥试验,考察了温度、风速对杏干燥特性的影响.试验结果表明在一定范围内温度是影响干燥速率的主要因素,通过试验值回归,确定杏在较低温度下的干燥模型为Wang-Singh方程,且模型系数与温度、风速有关.试验值与模型预测值比较说明,该模型能较好地描述干燥过程中杏的水分比与干燥时间的关系.

关键词：杏、薄层干燥、数学模型、试验

所属期刊栏目：42

分类号：TQ028.6+3;S662.2(一般性问题)

资助基金："十一五"国家科技支撑计划资助项目2006BAD11A13

在线出版日期：2012-02-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：140-143,153