超声红外热像检测中缺陷发热的瞬态温度场的有限元分析

摘要：

在超声红外热像技术中,高能量的超声波能使各种材料中的缺陷发热,通过红外热像仪监视样品的温度变化,可以观察到缺陷区在超声激发过程中温度异常升高,从而实现对样品的检测.利用有限元数值计算方法,对脉冲超声波在缺陷(裂纹)处激发的热源引起的瞬态温度场进行分析,计算结果与实验结果很好吻合,从而证明了超声波在缺陷处导致发热是一个平稳的物理过程,且超声红外热像技术对样品的检测是一个无损检测过程.还对材料热学参数与超声激发过程中缺陷中心温度的关系进行了数值分析,为利用红外热像研究材料的各种性质提供了参考依据.

关键词：红外热像、超声无损检测、有限元、瞬态温度场

所属期刊栏目：41

分类号：O422.4(声学)

资助基金：国家自然科学基金10174038

在线出版日期：2008-05-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：98-104