10.3321/j.issn:0469-5097.2005.01.006
锗量子点超晶格的光学特性
对自组装生长的Ge量子点超晶格样品进行了光荧光谱(PL谱)和拉曼散射谱(Raman谱)实验测量研究.对Si的TO发光峰和Ge的发光峰特征进行了深入讨论,通过对变温PL谱的拟合及分析提出了对Ge量子点尺寸和其电子有效质量一种新的测评方法;首次在非共振Raman模式下观测到低频声子模,研究了样品的结构组份、应变及声子限制效应间的关联性.
PL谱、Raman谱、Ge量子点超晶格
41
TN304;TN383;O47(半导体技术)
国家自然科学基金90101021,60390074,60206001,60225014;国家重点基础研究规划项目2001CB309505
2008-05-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
41-46