FT—NIR光谱仪测定酒糟成分不同谱区范围对数学模型的影响

摘要：

通过使用FT—NIR光谱仪，探讨不同的近红外谱图范围分别对出入窖糟的各组分的影响，找到最佳的谱区范围，确定决定系数（R）和均方差（RMsEcV），建立最优数学模型，确保检测数据准确可靠。

关键词：分析方法、谱区范围、决定系数(R)、均方差(RMsECV)

分类号：TS262.3(食品工业)

在线出版日期：2012-08-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：65-67