AlN微粉表面结合状态的XPS研究

摘要：

通过X射线光电子能谱(XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态.结果表明:AIN微粉的表面有明显的氧化层存在;AlN微粉表面结合状态为Al-O和Al-N复合型结合;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的,并以WO42-形式分布于AlN微粉表面.

关键词：AlN微粉、X射线光电子能谱(XPS)、表面结合状态

所属期刊栏目：35

分类号：TQ17

在线出版日期：2004-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：233-235