基于32位微控制器的双向晶闸管换向dv/dt测试系统

摘要：

电力半导体随着工业应用的进步而不断发展,其核心技术为各种电力半导体器件,目前电力半导体器件的发展主要向着双向高电压、大电流、高速度器件发展.本文介绍了双向晶闸管换向dv/dt的测试原理及设计方案,其反映双向晶闸管器件的临界上升率参数及换向能力,对应器件的正确使用具有重要的指导作用.

机标关键词：32位微控制器、双向晶闸管、测试系统

所属期刊栏目：44

分类号：TP368.1;TP273;TM301.2

在线出版日期：2023-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：21-22