基于图像像素点分析的EDI-OCT测量脉络膜厚度研究

摘要：

目的 使用增强型深度成像OCT(EDI-OCT)以基于图像像素点的方式实现脉络膜厚度的测量.方法 通过EDI-OCT获得50名受试者的脉络膜图像,利用OCT软件自动识别脉络膜前界,通过软件工具描绘脉络膜后界.在黄斑中心凹及其两侧每隔500μm共设7个特殊点,手工测量各点处脉络膜厚度.两研究者用自建程序根据像素点及比例尺计算脉络膜厚度,分析两研究者的相关系数,并对比两种方法的测量结果.结果 水平方向脉络膜:受试者在基于像素点的新方法测量的7点平均脉络膜厚度(m7)为(248.98±81.48)pm,手工测量的m7为(244.06±81.09)pm,两者差值为4.92pm,水平方向的所有像素点平均脉络膜厚度(m)为(249.48±76.61)μm.垂直方向脉络膜:新方法测量的m7为(259.96±72.47)pm,手工测量的m7为(256.40±71.81)μm,两者差值为3.57μm,垂直方向的m为(260.47±77.01)μm.两位研究者之间的ICC值为0.991,其95％可信区间为0.986～0.994.两种方法测量的所有特殊位置的脉络膜厚度差异均无统计学意义(均P＞0.05),各个位置的测量差值在2.54～8.03μm.结论 本研究方法测量脉络膜厚度的准确性及可重复性高,可通过SD-OCT实现测量,更易应用于临床和研究.

关键词：光学相干断层扫描、增强深部成像、脉络膜厚度、像素点

所属期刊栏目：35

分类号：R770.4(眼科学)

资助基金：宁波市重大科技项目;宁波市眼科临床医学研究中心;省市共建重点学科项目

在线出版日期：2023-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：578-582