10.3969/j.issn.1007-8924.2010.04.004
荷电纳滤膜的切向流动电位测试技术研究
改进了切向流动电位测试技术.由运动方程出发推导了流道高度的理论计算式.利用DL膜测量了流动电位,通道高度以及系统中各部分的电导,深入研究了流道高度、系统的各部分电导以及压降和浓度对Zeta电位的影响.结果表明,所提出的流道高度测定方法,并以总电导代替流道电导和溶液电导,大大提高了Zeta电位测定结果的准确性.在测量范围内,压降对Zeta电位几乎没有影响,而浓度对Zeta电位及各部分的电导影响很大.随浓度的增大,Zeta电位的绝对值下降.在低浓度时,膜电导所占比例大于溶液电导和外回路电导.随溶液浓度增加,膜电导所占比例逐渐低于溶液电导.
纳滤膜、切向流动电位、Zeta电位、总电导
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TQ028.8;O647.11(一般性问题)
国家自然科学基金资助项目20506025
2010-11-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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