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10.3969/j.issn.1001-7402.2006.06.024

长寿命产品在小子样缺失数据下的Bayes可靠性增长分析

引用
在长寿命产品的可靠性增长试验过程中,由于人员、观测设备或其他方面的原因,可能会造成某些试验数据丢失或未观测到的现象.对这类小子样变总体缺失数据情形,提出了Bayes可靠性增长分析方法.首先利用Box-Tiao技术构造先验分布,然后利用非齐次Poisson过程原理和缺失数据的产生机制,得到可靠性增长缺失数据的似然函数,再用Bayes统计推断方法得到产品各研制阶段结束时的可靠性水平,同时给出了缺失数据下增长模型的拟合优度检验方法.最后通过一个示例说明了该方法在工程上的应用.

长寿命产品、小子样缺失数据、非齐次Poisson过程、可靠性增长、Bayes方法

20

O1(数学)

2007-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

149-153

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1001-7402

43-1179/O1

20

2006,20(6)

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