飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用

摘要：

介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示.

关键词：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)、表面分析、摩擦膜、硬磁盘/磁头摩擦学、摩擦化学反应

所属期刊栏目：27

分类号：TH117.3

在线出版日期：2008-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：592-599