组合电路的故障测试生成D算法研究

摘要：

测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码,测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏.确定性测试中,测试算法的研究显得尤为重要.分析了组合电路的故障测试生成D算法,以施耐得计数器电路为例,研究了D算法在组合电路故障测试生成中的应用,并给出了D算法与通路敏化法、布尔差分法的应用比较结果.

关键词：测试生成、D算法、通路敏化法、布尔差分法

所属期刊栏目：21

分类号：TP18(自动化基础理论)

资助基金：甘肃省自然科学基金ZS98-1-A22-030-G

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：14-16