压力对NiO晶体结构及电子结构影响的理论研究

摘要：

采用密度泛函理论的方法研究了不同压力条件下立方结构NiO氧化物的晶格结构、稳定性和电子结构.计算结果表明,NiO氧化物的晶格参数逐渐减小,键长变小,对称性保持不变;体系费米能先降低后增加;零压力下其存在着0.46 eV的间接带隙,费米能级附近的状态密度较低,随着外压力的增加,带隙先减小再增大,费米能级附近的态密度先增大再减小.分析结果表明,随着外压力的增加,NiO氧化物价带顶附近的载流子有效质量先增大再减小;导带底的载流子有效质量均较小.外界压力还改变了NiO体系的电子分布情况.

关键词：光电子学、NiO、压力效应、电子结构

所属期刊栏目：32

分类号：O649(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：国家自然科学基金51201037、北京市自然科学基金2122020、河南省科技计划132300410071、“青年骨干教师”项目资助

在线出版日期：2016-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：751-758