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10.3969/j.issn.1007-5461.2015.03.012

介观LC电路中电容、电感和外源流突变所产生的量子压缩

引用
通过采用有序算符内的积分技术(IWOP技术),对介观LC电路量子化方案所得到的哈密顿量进行了分析,探讨了该方案下LC电路电容、电感、外源流在突变时所产生的量子压缩效应.结果标明:电容突变反映在正交组q呈现压缩效应;电感突变反映在另一正交相p呈现压缩效应;而外源流的非线性突变反映出来的是数-相压缩.

量子光学、介观LC电路、数-相量子化、量子压缩

32

O431.2(光学)

安徽省青年自然科学基金1308085QA18、安徽省池州学院研究中心项目XKY201424

2015-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

335-340

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1007-5461

34-1163/TN

32

2015,32(3)

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