推扫成像中针对细分采样累加的反降晰算法

摘要：

为了降低细分采样累加方式对线列推扫成像清晰度的影响,利用孔径函数的变换,提出了相应的反降晰方法,实现了同一个位置上的像元累加,使得推扫方向上的孔径函数和线列方向等同,消除了累加过程中像元位移的影响.在细分采样累加倍数为4的情况下,Nyquist频率处的传递函数值提高7%.通过对反降晰算法的仿真采样验证,结果表明本算法完全可以达到预定要求,算法简单,只需少量加法器,在目前的成像仪电路中稍微修改可编程芯片即可投入工程应用.

关键词：遥感、反降晰、孔径函数、线列推扫

所属期刊栏目：25

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

资助基金：福建省青年科技人才创新项目2007F3066;华侨大学高层次人才科研启动金资助项目05BS302

在线出版日期：2008-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：610-614