10.3969/j.issn.1007-5461.2008.02.002
分子谱线参数测量新方法
介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加.实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.
光谱学、F-P腔、分子谱线参数、吸收、多光束干涉
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O433.1;O562.3(光学)
国家高技术研究发展计划863计划2006AA062237
2008-05-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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