用Fourier分解法测量材料表面的Mueller矩阵

摘要：

测量系统采用双旋转延迟器结构,通过两个1/4波片的周期变化,对入射光、散射光的偏振态进行调制.由探测光强的25个Fourier分解系数可以计算得到样品的Mueller矩阵.为了检测测量系统的准确性,将测量的16个自由空间Mueller矩阵分量和理想情况下的自由空间Mueller矩阵分量进行比较,并给出了每个矩阵分量的标准误差.最后,通过测量聚四氟乙烯样品板的Mueller矩阵,定量地分析样品的退偏效应.

关键词：光学偏振、Mueller矩阵、Fourier分解、聚四氟乙烯

所属期刊栏目：24

分类号：TN249(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2008-01-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：714-720