10.3969/j.issn.1007-5461.2004.04.030
高亮度发光二极管多层结构外延片电化学C-V测试分析
本文介绍了利用ECV的方法测试分析双异质结多层结构外延片方法,在测试厚度、掺杂浓度、导电类型等材料的结构参数过程中,解决了外延片参数不稳定时的测试方法.
光电子学、ECV、肖特基结、微分电容、电解液
21
TN312.8(半导体技术)
广东省科技攻关项目2000-D068
2004-09-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
542-544
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10.3969/j.issn.1007-5461.2004.04.030
光电子学、ECV、肖特基结、微分电容、电解液
21
TN312.8(半导体技术)
广东省科技攻关项目2000-D068
2004-09-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
542-544
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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