组合逻辑电路的软锚误率分析与加固

摘要：

介绍了一种面向标准单元设计流程的软错误率(SER)分析及电路加固方法,其适用于组合电路以及时序逻辑的组合部分.采用该方法对ISCAS'85 Benchmark电路进行实验分析的结果表明,其运行速度快,在引入较小面积、时序开销的前提下取得了很好的加固效果.

关键词：软错误、组合逻辑电路、SER、电路加固

所属期刊栏目：39

分类号：TN432(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2011-05-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：30-34,38