X射线荧光岩屑录井技术

摘要：

针对传统岩屑录井信息量少等局限性,我国录井工作者率先将X射线荧光光谱分析技术应用于岩屑录井,开发出了具有独立知识产权的XRF岩屑录井技术.X射线荧光分析是一种对被测物质从元素成分及含量的角度进行测定的技术,以随钻获取的岩屑粉末为分析对象,从中获得元素组成(组分、含量及分布规律)信息,通过元素组合特征而识别岩性、判断划分地层,进一步开展深层次的数据分析处理,寻找与储集层物性、含油气性规律,实现评价储集层的目的.从该技术原理入手,阐述了特征X射线的产生、元素X射线的惟一性和地层岩性元素成分特点,论证了其方法的可行性.对XRF录井工艺流程、方法和影响因素进行了分析,简介了该技术数据及图谱处理软件结构和资料分析与解释思路.

关键词：X射线、X射线荧光(XRF)、岩屑录井、俄歇效应、康普顿散射、荧光产额、吸收边、XRF录井

所属期刊栏目：19

分类号：TE14(石油、天然气地质与勘探)

资助基金：国家发明专利资助项目2007100786902

在线出版日期：2008-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：1-8,13