10.3969/j.issn.1003-6202.2007.06.011
X射线光电子能谱(XPS)在变性淀粉表面基团分布研究中的应用
详述了X射线光电子能谱(XPS)工作的基本原理,测定变性淀粉基团在淀粉颗粒表面分布的样品预处理方法,以及在酯化、醚化、接枝共聚改性淀粉基团分布分析中的应用,并对XPS在变性淀粉基团分布分析前景进行了展望.
变性淀粉、X射线光电子能谱(XPS)、取代基团
TS236(食品工业)
华南理工大学校科研和教改项目C07E5050350
2007-07-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
28-29,32