基于序贯估计方法的电子器件技术参数统计推断

摘要：

对A.瓦尔德所研究的序贯抽样方案,用序贯估计方法, 研究A公司一类新投产的电子器件的特征参数并给出统计推断.利用这种方法对某些重要参数,只要恰当地选取样本容度,除了节省抽样量之外,还可提高推断的可靠程度及精确程度.进一步用两个定理证明了样本最佳密度、特征参数及置信区间等几个重要问题.

关键词：统计分析、序贯估计、特征参数、最佳密度

所属期刊栏目：32

分类号：O234(控制论、信息论（数学理论）)

在线出版日期：2009-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：157-160