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10.3969/j.issn.1000-1735.2006.04.015

用表面磁光克尔效应测量材料表面磁特性的研究

引用
用表面磁光克尔效应测量铁磁材料的磁滞回线,并求得在饱和状态下的克尔旋转角.对于很多磁性薄膜,易磁轴方向为纵向,通常纵向克尔效应较明显.用自制装置可研究磁性材料表面的磁性质,现此实验已在近代物理实验中应用.

克尔效应、磁滞回线、磁感应强度

29

O482.5(固体物理学)

2007-01-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

433-435

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辽宁师范大学学报(自然科学版)

1000-1735

21-1192/N

29

2006,29(4)

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