基于March C+算法的RAM内建自测试设计

摘要：

为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用MbistArchitect工具自动产生MarchC+算法,生成时间只需要3.5s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率.仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果.该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强.

关键词：perl语言、March C+算法、HSC32K1芯片、内建自测试

所属期刊栏目：45

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：辽宁省教育厅研究生教育教学改革项目辽教函[2017]24号

在线出版日期：2018-07-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：125-128