10.3969/j.issn.1000-5846.2009.01.002
Zn缺陷对ZnO薄膜光学特性的影响
采用射频磁控溅射方法在熔石英玻璃衬底上制备了ZnO薄膜.薄膜的X射线衍射(XRD)分析表明样品具有较好的结晶性和良好的c轴取向.光致发光(PL)性能分析发现,分别在398 nm和470 nm波长出现了较强的发光峰,与ZnO薄膜通常的发光峰位置明显不同.通过分析表明,398 nm波长的发光峰是由于导带电子跃迁到Zn空位引起,470 nm波长的发光峰是由于间隙Zn电子跃迁到Zn空位上而产生.
ZnO薄膜、光致发光、Zn缺陷
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O484.4(固体物理学)
辽宁省教育厅科研计划2008224;辽宁省科技厅科研计划20081030
2009-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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