10.3969/j.issn.1000-5846.2007.04.016
锥光干涉图、光强透过率曲线对电光调制实验的影响
基于电光效应的基本原理,讨论了铌酸锂(LiNbO3)晶体横向电光调制实验中利用锥光干涉图暗十字线图样确定起偏器和检偏器偏振方向分别平行于晶体x、y光轴的方法,及光强透过率曲线偏移对测量铌酸锂晶体半波电压的影响.
电光效应、铌酸锂晶体、锥光干涉图、半波电压.
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O734.1(晶体物理)
2008-01-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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