10.3969/j.issn.1000-5846.2007.01.004
VDMOSFET沟道区的研究
讨论了影响沟道长度及沟道的夹断区长度的因素,通过沟道区的优化促进了VDMOSFET性能的提高.
沟道长度、夹断区、VDMOSFET
34
TN303(半导体技术)
辽宁省沈阳市科技局资助项目1032029-2-06
2007-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
11-14
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10.3969/j.issn.1000-5846.2007.01.004
沟道长度、夹断区、VDMOSFET
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TN303(半导体技术)
辽宁省沈阳市科技局资助项目1032029-2-06
2007-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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