10.3969/j.issn.1000-5846.2006.01.011
高压VDMOSFET中的快恢复体二极管的设计新方法
提出了一种提高高压垂直双扩散MOS场效应晶体管(VDMOSFET)的体二级管恢复速度的新方法.在这一方法中,肖特基接触集成于VDMOSFET中的每一单胞中.据此生产的样品的实验结果表明,对于500V/2A的VDMOSFET,反向恢复电荷减小了50%,体二极管的恢复因数增大了60%.
体二极管、恢复速度、肖特基接触、VDMOSFET
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TN386.1(半导体技术)
2006-04-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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