一种16位存储器版图的验证与参数提取

摘要：

随着集成电路的发展,存储器在IC(Integrated Circuit)即"集成电路"中地位越来越突出.阐述了对一种16位存储器版图设计中的DRC(Design Rule Checking)即"设计规则检查"和LVS(Layout Versus Schematic)即"版图和电路比较"、以及RC寄生参数的提取.

关键词：DRC、LVS、寄生参数

所属期刊栏目：31

分类号：O45(无线电物理学)

在线出版日期：2004-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：363-366